近日，繼 2025年9月啟動飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS）國產(chǎn)化產(chǎn)線后，雪迪龍再傳捷報！雪迪龍飛行時間二次離子質(zhì)譜儀成功中標某高校質(zhì)譜采購項目，用于肽及蛋白質(zhì)水解復雜產(chǎn)物表面成分分析。此次中標不僅是市場對雪迪龍硬核技術(shù)實力的高度認可，更標志著公司在高端科學儀器布局、核心技術(shù)自主可控的征程上邁出堅實一步，對保障關(guān)鍵領(lǐng)域供應(yīng)鏈安全、推動國產(chǎn)儀器自主創(chuàng)新具有重要意義。

TOF-SIMS作為半導體、生命科學等關(guān)鍵領(lǐng)域的核心材料表面分析工具，因技術(shù)復雜度高、研發(fā)周期長、投入強度大，長期被少數(shù)跨國企業(yè)壟斷，是高精尖科學儀器核心產(chǎn)品之一，公司后期會持續(xù)進行技術(shù)創(chuàng)新，產(chǎn)學研協(xié)同，推動設(shè)備性能升級與技術(shù)自主可控，全面對標國際先進水平，為國產(chǎn)儀器突破注入強勁動力。

什么是飛行時間二次離子質(zhì)譜

飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）是將飛行時間檢測技術(shù)與二次離子質(zhì)譜技術(shù)相結(jié)合的新型高端表面分析技術(shù)。該技術(shù)兼具高分辨率、高靈敏度、精確質(zhì)量測定等核心優(yōu)勢，已成為高端技術(shù)領(lǐng)域的關(guān)鍵分析手段，憑借質(zhì)譜分析、二維成像、深度剖析三大核心功能，廣泛應(yīng)用于醫(yī)學、細胞學、地質(zhì)礦物學、微電子、材料化學、納米科學、生命科學等多個前沿領(lǐng)域。

其核心工作原理如下：離子源發(fā)射的離子束作為一次離子源，經(jīng)一次離子光學系統(tǒng)聚焦與傳輸后，精準轟擊樣品表面；樣品表面受濺射后產(chǎn)生二次離子，系統(tǒng)對二次離子進行提取與聚焦，隨后送入離子飛行系統(tǒng)；在飛行系統(tǒng)中，不同質(zhì)荷比（m/z）的二次離子因飛行速度差異實現(xiàn)分離，通過對分離后的離子進行檢測，即可完成樣品相關(guān)特性分析。

TOF-SIMS通過整合二次離子質(zhì)譜的成分分析能力與飛行時間器的分離優(yōu)勢，顯著提升了樣品元素成分及分布檢測的準確性。該技術(shù)兼具高橫向/縱向分辨率與高質(zhì)譜靈敏度，可實現(xiàn)元素、同位素、分子等多維度信息的精準分析。這一獨特優(yōu)勢使其成為表面分析領(lǐng)域的主流技術(shù)，能夠提供能量色散X射線光譜（EDX）、俄歇電子能譜（AES）、X射線光電子能譜（XPS）等傳統(tǒng)技術(shù)無法覆蓋的專屬元素信息，為前沿科研與工業(yè)檢測提供核心技術(shù)支撐。